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第一百二十五章 最后一块拼图
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    虽说原始数据也可以看出一些信息,比如许体系的结晶性能非常好,但还是不够直观。

    而且进行数据处理后,如果发现某个样品测的不太好,还可以当场重新测试。

    不然,万一有一个关键数据有问题,需要重新测试,那就要等待下次光源机时,这可能要一个多月的时间。

    许首先处理1和2样品的数据,这两个样品是基于光电性能最佳的体系。

    分别为pbfbt4t-2od单独组分薄膜,以及它与pcb受体的共混薄膜。

    数据处理完毕。

    1样品的背景是干净的亮蓝色,样品信号主要出现在横轴、纵轴上。

    纵轴上的信号有三处,也就是垂直于基片表面的结晶信号,对应着晶面指数(100)、(200)和(300),位置约为027、054和081埃的负一次方。

    横轴上的信号只有一处,也就是基片表面上的结晶信号,对应着晶面指数(010),位置约为160埃的负一次方。

    而2样品同样出现了1样品的全部样品信号,只是相对1样品弱了一些。

    此外,还出现了属于pcb的环状信号,大约位于140埃的负一次方。

    这表明pbfbt4t-2od材料,是标准的fa结构,电荷载流子容易在垂直方向上输运,这样的材料就非常适合于太阳能光伏器件。

    相反的,如果(100)信号出现在横轴,而(010)信号出现在纵轴上,则对应为edge-on结构,电荷载流子容易在水平方向上输运,这样的材料适合用于有机场效应晶体管o

第一百二十五章 最后一块拼图(4/5)
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