顺带宣传一波母校。
这也是许在阅读献获得的灵感，他之前就看到过科院化学研究所卢长军课题组发表的章，对方拍的照片带着ias的字标识，是那种一张纸上斜着打印了一排排的“ias”，还是黑白的，看起来比较弱鸡。
许这次直接上彩图logo，逼格更高一些。
第四张图，许打算给“自己”增加点工作量，深入研究pce10:iei-4f体系，在不同电极厚度下器件的效率和对应的avt数值。
厚度值决定分别选择10、12、14、16、18、20、100纳米，其100纳米作为正常器件，也就是标样进行参比，其他的薄层电极厚度都是包含1纳米金在内的。
这里可以列一张表，用表格的形式详细列举出不同电极厚度下，pce、avt等数据的变化情况。
第五张图……许发现实在没什么可做的实验了。
只有四张图的话，也不是不可以，但章就显得稍微有些单薄。
于是，他决定搞点花里胡哨的东西出来，这也是之前看其他人献时得到的灵感。
正常器件测试的时候都是从玻璃/ito这一测打光测试，半透明器件的常规测试方法也是一样，从透明玻璃一侧打光。
许打算另外测试一组从半透明电极那一侧打光的器件性能数据。
可以预见的是，器件效率肯定是会变低的，因为光在到达有效层前就会被半透明电极先吸收一小半。
而效率的衰减绝大多数来自于这项吸收损失，因此衰减的幅度基本上约等于一减去半透明电极的avt。
390 聊天技巧(5/6)